三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡

簡(jiǎn)要描述：三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡，三豐 WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測(cè)量輪廓測(cè)量顯微鏡原廠發(fā)貨

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更新時(shí)間：2025-02-21
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三豐量具

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三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡 ，三豐 WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測(cè)量輪廓測(cè)量顯微鏡原廠發(fā)貨

WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測(cè)量輪廓測(cè)量顯微鏡ss001.jpg

WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測(cè)量輪廓測(cè)量顯微鏡ss002.jpg

WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測(cè)量輪廓測(cè)量顯微鏡ss003.jpg

WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測(cè)量輪廓測(cè)量顯微鏡ss005.png

三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡 ，三豐 WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測(cè)量輪廓測(cè)量顯微鏡原廠發(fā)貨

  產(chǎn)品特點(diǎn)與優(yōu)白光干涉光學(xué)顯微
● 實(shí)現(xiàn)非接觸式3D表面形狀測(cè)量和輪廓測(cè)量
可利用白光干涉原理實(shí)現(xiàn)非接觸式高精度細(xì)微表面性狀測(cè)量
（例如：3D形狀測(cè)量、3D粗糙度測(cè)量）
● 不依賴于光學(xué)倍率的高度測(cè)量精度
即使是低倍率鏡頭，也可使用Z向高分辨力進(jìn)行測(cè)量
● 高縱橫比測(cè)量
不依賴于光學(xué)系統(tǒng)的NA進(jìn)行檢測(cè)，支持高縱橫比形狀測(cè)量
● 抗干擾震動(dòng)的高穩(wěn)定性
● 小型輕便

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產(chǎn)品陣容
型號(hào)           Z向移動(dòng)范圍    Z向分辨力
WLI-Unit-003   8000μm        -
WLI-Unit-005   8000μm        4nm
WLI-Unit-010   8000μm        4nm

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